Просвечивающая (ПЭМ) и растровая (РЭМ) электронная микроскопия — методы, которые позволяют изучать материалы на нанометровом уровне, анализировать кристаллическую структуру, дефекты, химический состав и морфологию поверхности. Эти технологии широко применяются в металловедении для исследования микроструктуры металлов и сплавов, контроля качества продукции, изучения фазового состава и дефектов кристаллической решетки.